相控陣超聲檢測儀Novascan

Novascan相控陣超聲檢測儀是一臺功能完善的便攜式儀器，具備實(shí)時(shí)全聚焦成像功能，全新的向?qū)Я鞒蹋嫦蚩蛻舻牟僮髟O(shè)計(jì)，大大簡化了工藝設(shè)置流程，提升了工作效率。儀器還可進(jìn)行獨(dú)立TOFD/UT檢測（雙通道），功能完善，實(shí)用性強(qiáng)，適用于實(shí)驗(yàn)室及復(fù)雜現(xiàn)場的檢測。

功能完備的相控陣設(shè)備

Novascan儀器包含了幾乎所有的相控陣檢測功能，集多種檢測功能于一身。可支持全聚焦檢測、相控陣檢測、TOFD檢測及常規(guī)單通道檢測。相控陣技術(shù)支持線陣、雙線陣、雙面陣探頭，適用于絕大多數(shù)的焊縫及腐蝕檢測場景。儀器特有的腐蝕智能分析及管管相插相貫線焊縫（管座）檢測，拓展了儀器的特殊應(yīng)用領(lǐng)域，配合科皕檢測的掃查器及探頭設(shè)計(jì)優(yōu)勢，可解決眾多的無損檢測難題。

卓越的穩(wěn)定性

儀器外殼采用了耐用的鋁合金，接口堅(jiān)固耐用，整機(jī)密封性良好。防護(hù)等級IP65，在復(fù)雜惡劣的環(huán)境下亦能勝任檢測工作。儀器具備兩塊電池，可滿足一天的檢測工作量。1024*768像素高清工業(yè)級電容屏，圖像顯示更清晰，儀器操作更便捷。

性能特點(diǎn)

l采用128通道發(fā)射，64接收系統(tǒng)，最大可支持128晶片的相控陣探頭，實(shí)現(xiàn)高速數(shù)據(jù)的并行實(shí)時(shí)采集與處理。

l全聚焦成像清晰，每幀點(diǎn)數(shù)達(dá)1024*1024，極大地提高了缺陷檢出率。

l支持相控陣與全聚焦模式的自由切換，儀器可適應(yīng)不同檢測環(huán)境，采用不同檢測模式得到更好的顯示效果。

l相控陣通道可連接轉(zhuǎn)換盒轉(zhuǎn)出常規(guī)通道（100V），進(jìn)行PAUT組合檢測；也可使用獨(dú)立常規(guī)通道（400V），進(jìn)行PATOFD組合檢測。

l提供FPGA直連方式，兼具板卡功能，將采集數(shù)據(jù)輸送至上位機(jī)系統(tǒng)，方便用戶進(jìn)行自定義二次開發(fā)。得益于128G內(nèi)置固態(tài)硬盤，單個(gè)數(shù)據(jù)文件大小不受限制，節(jié)省了數(shù)據(jù)的頻繁導(dǎo)出時(shí)間。

     實(shí)時(shí)3D檢測功能

在檢測過程中，實(shí)時(shí)顯示工件的掃查狀況，并將檢測出的缺陷以3D的形式顯示出來，同時(shí)可查看探頭對應(yīng)位置的S掃描以及A掃描等，直觀、快速地呈現(xiàn)出檢測結(jié)果。

3D 圖示可旋轉(zhuǎn)，方便多角度觀察缺陷形貌。

檢測暫停后，可拖動(dòng) 3D圖示中數(shù)據(jù)掃查線，查看對應(yīng)位置的S掃描和A掃描信息，以便全面分析缺陷的性質(zhì)。

?維掃查及智能分析

X 軸的長度， Y 軸步進(jìn)無需設(shè)定，系統(tǒng)自動(dòng)識別 Y 軸的步進(jìn)大小，并將數(shù)據(jù)處理后顯示在二維掃查圖中。掃查圖最大可支持 30m*10m （ X*Y ）。能夠自動(dòng)識別腐蝕缺陷并計(jì)算缺陷面積大小。在 C 掃中框選一個(gè)缺陷，自動(dòng)計(jì)算框選區(qū)域內(nèi)的缺陷面積。記錄后可以生可使用雙軸編碼器，進(jìn)行高速二維掃查，推薦配合科皕檢測雙軸掃查系統(tǒng)。可自定義成缺陷表格，在導(dǎo)出報(bào)表時(shí)合并導(dǎo)出。

高精度3D/2D全聚焦檢測

全聚焦（ TFM ）是一種采用全矩陣采集數(shù)據(jù)（ FMC）的新型檢測手段，和傳統(tǒng)相控陣檢測方法相比，具有精度高、近表面盲區(qū)小、掃查范圍大等優(yōu)點(diǎn)。隨著電子電路技術(shù)的不斷發(fā)展，全聚焦技術(shù)數(shù)據(jù)量大的問題也會迎刃而解，應(yīng)用前景良好。

技術(shù)參數(shù)